ST2804 1.0V~6.5V 0.7µA 高精度NMOS开漏输出电压检测芯片

ST2804 1.0V~6.5V 0.7µA 高精度NMOS开漏输出电压检测芯片

ST2804

ST2804 是一款采用 NMOS 工艺制造的高精度、低功耗电压检测芯片,检测电压范围 1.0V~6.5V,以 0.1V 步进提供 13 种标准电压档位(1.0V~3.8V),检测精度高达 ±1%(检测电压 >1.5V 时),检测电压温漂典型值仅 ±100ppm/℃。芯片工作电压范围 0.7V~7V,静态电流典型值 0.7µA,额定输出电流 50mA,内置约 0.06V 迟滞电压有效防止阈值附近输出抖动,响应时间 60µs,采用 NMOS 开漏输出配置。ST2804 采用 SOT23-3 封装,工作温度范围 -40~+85℃,广泛应用于微处理器复位电路、存储器电池备份电路、上电复位电路及电源失效检测等场景。

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参数规格

Detect Voltage1.0V~6.5V(0.1V 步进,如1.0/3.3V)
Input Voltage Range0.7V~7V
Output Current50mA(额定)
Accuracy±2%(检测≤1.5V);±1%(检测>1.5V)
Quiescent Current0.7~1.2µA(VIN=2~7V)
Output TypeNMOS(开漏)
Release Delay Time无延时(检测型)
PackageSOT23-3
Operating Temp.-40~85℃

产品详情

产品简介

ST2804 是一款采用 NMOS 工艺制造的高精度、低功耗电压检测芯片,检测电压范围 1.0V~6.5V,以 0.1V 步进提供 13 种标准电压档位,检测电压精确且温度漂移极小(典型 ±100ppm/℃)。芯片检测精度达 ±1%(检测电压 >1.5V 时),静态电流典型值仅 0.7µA,内置约 0.06V 迟滞电压,可在检测阈值附近有效防止输出抖动;当输入电压低于检测电压时输出拉低至 GND,高于解除电压时输出释放,响应时间 60µs。ST2804 采用 NMOS 开漏输出,额定输出电流 50mA,提供 SOT23-3 封装,工作温度范围 -40~+85℃,为微处理器复位、电池备份与电源失效检测等应用提供灵活的电压监控方案。

产品特性

  • 高精度检测电压:±1%(检测电压 >1.5V),±2%(检测电压 ≤1.5V)
  • 低功耗:静态电流典型值 0.7µA(VIN=3.5V,-VDET=2.0V)
  • 检测电压范围:1.0V~6.5V,0.1V 步进
  • 工作电压范围:0.7V~7V
  • 检测电压温度特性:典型 ±100ppm/℃
  • 内置迟滞电压:0.06V 典型值,防止阈值附近输出抖动
  • NMOS 开漏输出,额定输出电流 50mA
  • 响应时间:60µs
  • SOT23-3 封装

典型应用

  • 微处理器复位电路
  • 存储器电池备份电路
  • 上电复位电路
  • 电源失效检测